Введение 3
2. Сканирующие микроскопы Керра и Рамана 8
3. Особенности современной сканирующей микроскопии 12
Заключение 15
Список использованной литературы 16
Приложения 17
Актуальность. В 21-м веке стремительно набирают популярность нанотехнологии, которые проникают во все сферы нашей жизни, но прогресса в них не было бы без новых, экспериментальных методов исследований, одним из наиболее информативных является метод сканирующей микроскопии, которую изобрели и распространили нобелевские лауреаты 1986 года – профессор Генрих Рорер и доктор Герд Бинниг.
Войти
в кабинет
в кабинет
Пролистайте материалы и убедитесь в качестве
Сканирующие микроскопы Керра и Рамана #1204933
Артикул: 1204933
- Предмет: Современные методы синтеза и исследования наноструктур
- Уникальность: 64% (Антиплагиат.ВУЗ)
- Разместил(-а): 738 Алина в 2017 году
- Количество страниц: 19
- Формат файла: docx
1 470p.
1. Миронов В. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Миронов, – М.: Техносфера, 2014, – 143 с.
2. Практическая электронная растровая микроскопия. Под ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица. М., 1978.
3. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. М., Мир, 1984.
4. Рыков С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов / С. А. Рыков, – СПБ: Наука, 2011, – 53 с.
5. Современные проблемы нанотехнологии. Учебно-методический комплекс / Попович А.А., Мутылина И.Н., Попович Т.А., Андреев В.В. М.:Издательство "Проспект"",2015 г, - 406 с.
6. Ясников И.С., Нагорнов Ю.С., Горбачев И.В., Микеев Р.Р., Садовников П.С., Шубчинская Н.Ю., Аминаров А.В. Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения микроскопических объектов электролитического происхождения // Фундаментальные исследования. – 2013. – № 1-3. – С. 758-764
2. Практическая электронная растровая микроскопия. Под ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица. М., 1978.
3. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. М., Мир, 1984.
4. Рыков С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов / С. А. Рыков, – СПБ: Наука, 2011, – 53 с.
5. Современные проблемы нанотехнологии. Учебно-методический комплекс / Попович А.А., Мутылина И.Н., Попович Т.А., Андреев В.В. М.:Издательство "Проспект"",2015 г, - 406 с.
6. Ясников И.С., Нагорнов Ю.С., Горбачев И.В., Микеев Р.Р., Садовников П.С., Шубчинская Н.Ю., Аминаров А.В. Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения микроскопических объектов электролитического происхождения // Фундаментальные исследования. – 2013. – № 1-3. – С. 758-764
Материалы, размещаемые в каталоге, с согласия автора, могут использоваться только в качестве дополнительного инструмента для решения имеющихся у вас задач,
сбора информации и источников, содержащих стороннее мнение по вопросу, его оценку, но не являются готовым решением.
Пользователь вправе по собственному усмотрению перерабатывать материалы, создавать производные произведения,
соглашаться или не соглашаться с выводами, предложенными автором, с его позицией.
| Тема: | Сканирующие микроскопы Керра и Рамана |
| Артикул: | 1204933 |
| Дата написания: | 20.11.2017 |
| Тип работы: | Реферат |
| Предмет: | Современные методы синтеза и исследования наноструктур |
| Оригинальность: | Антиплагиат.ВУЗ — 64% |
| Количество страниц: | 19 |
Файлы артикула: Сканирующие микроскопы Керра и Рамана по предмету современные методы синтеза и исследования наноструктур
Пролистайте "Сканирующие микроскопы Керра и Рамана" и убедитесь в качестве
После покупки артикул автоматически будет удален с сайта до 25.05.2024
Посмотреть остальные страницы ▼
Честный антиплагиат!
Уникальность работы — 64% (оригинальный текст + цитирования, без учета списка литературы и приложений), приведена по системе Антиплагиат.ВУЗ на момент её написания и могла со временем снизиться. Мы понимаем, что это важно для вас, поэтому сразу после оплаты вы сможете бесплатно поднять её. При этом текст и форматирование в работе останутся прежними.
Гарантируем возврат денег!
Качество каждой готовой работы, представленной в каталоге, проверено и соответствует описанию. В случае обоснованных претензий мы гарантируем возврат денег в течение 24 часов.
ПРЕДЫДУЩАЯ РАБОТА
Характеристики огнетушащих веществ. Первичные средства пожаротушения
СЛЕДУЮЩАЯ РАБОТА
Публичное и частное право